Исследование фоторезистивных слоев методами сканирующей зондовой микроскопии
| Направление | Электроника, нанотехнологии, наноматериалы |
|---|---|
| ФИО авторов | Орехов Артем Владимирович |
| Организация | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)» |
| Доклад | Просмотреть доклад |