ВЗАИМОСВЯЗЬ ЭЛЕКТРОННОЙ СТРУКТУРЫ И СТМ ТОПОГРАФИИ РЕКОНСТРУКЦИЙ C(4X2) И P(2X2) ПОВЕРХНОСТЕЙ SI(100) И GE(100)
| Направление | Электроника, нанотехнологии, наноматериалы |
|---|---|
| ФИО авторов | Ремеле Вячеслав Евгеньевич, Кузьмин Михаил Валерьевич |
| Организация | ФТИ им. Иоффе РАН |
| Доклад | Просмотреть доклад |